产品介绍

KA180M是一款液晶模组老化测试机，用于测试RGB接口和LVDS接口的显示模组。拥有丰富的外部IO接口，应用于满足不同需求。

RGB规格：

像素时钟：200MHz

颜色位数：8-bit（RGB888）

LVDS规格：

分辨率：1920*1080@60Hz

标准：VESA，JEIDA

LCDS组数：4Data Lanes + 1 Clock

应用场景